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ST3000
ST3000

 


- 실시간 박막두께 측정
- 비 접촉, 비 파괴 측정
- PC 통신 및 PLC 통신 연동 가능

 

제품 소개

 

Reflectometer 방식을 적용하여 시료의 두께를 분석하는 장비로 박막이 투명하고 광간섭성을 유지할 수 있다면 어떠한 종류의 시료라도 측정할 수 있으며, 다층 박막구조도 각각의 박막 두께를 측정할 수 있는 장정을 가지고 있습니다. 측정 시료의 표면을 손상하지 않으면서 측정이 용이하고, 빠른 속도로 수 Å에서부터 수십 ㎛ 수준의 두께를 측정할 수 있습니다. 저예산으로 두께 측정장비를 구매하고자 하시는 대학내 연구실에 적합한 모델입니다.

 

 

기능 사양

 

장비방식 수동형(Manual Type)
측정 시편 ≤ 4" 대응
측정 형태 비접촉식
측정 원리

반사량에 근거하여 두께를 측정(Reflectometer)

특징 두께변화량을 실시간으로 측정, 시각별로 디스플레이 출력 가능
Windows 기반의 S/W로 Excel, Origin, MS-Word 등으로 측정 결과 저장 가능
다양한 n, k 모델 지원 (Cauchy, Cauchy Expotential, Sellmeier)
측정 속도 우수, 측정 방법 간편

 


제품 사양

 

Stage Size 150 x 120mm(70 x 50mm Travel Distance)
Measurement Range 200Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
Spot size 20㎛ Typically
Measurement Speed 1~2 sec./site
Application Areas Polymers : PVA, PET, PP, PR ...
Dielectrics :?
Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
Option Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST)
Head Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST)
Nosepiecs Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
Type of Illumination 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

 


Software

 

- Window 기반의 사용자 편의적 인터페이스
- Excel, Html 및 Database와 자동으로 연동
- 파장대별 반사도 및 흡수율 확인 가능