정립/산업 현미경 제품 도립/금속 현미경 공구/측정 현미경 실체/ 저배율 현미경 반도체/ LCD검사 현미경 WAFER LOADER LASER CONFOCAL 현미경 이미지 분석 시스템 OPTO 디지털현미경 청정도검사설비 고속카메라 비접촉 3차원 측정기(OGP) 비접촉 3차원 측정기(ROI) 접촉 3차원 측정기 주사전자현미경(SEM) 투과전자현미경(TEM) mini SEM EDS BSE Ion Coater 색차계 분광측색계 Display 측정기 광계측기 제품 S.W ST2000-DLXh ST3000 ST4000-DLX ST5000 ST5030-SL 시편 가공장비 재료물성 시험기

home > 제품소개 > 전자현미경 > 투과전자현미경(SEM) > EDS   Mini SEM EDS   제품특징 액체 질소가 필요없는 Pelier 쿨링 방식 자동으로 스펙트럼 획득, 빠른 X-ray Mapping 원소 검출 범위 : Boron(5) to Americium(95) 분해능 : 128eV / 133eV 선택적 EDS Maker 장착가능 기본사양 : 정성.정량 분석 / Report 기능 고급사양 : Point분석, Line Scan기능, Mapping