| |
 |
 |
home |
> |
제품소개 |
> |
광학현미경 |
> |
이미지 분석 시스템 |
> |
"analysis" 스페셜 패키지 |
|
|
| |
|
|
| 4. analySIS TS Material |
 |
 |
|
analySIS TS Material은 Material science에 대한 analySIS TS 시리즈 중의 최상급 제품입니다.
복잡한 재료분석 작업을 TS Material로 간편하고 빠르게 수행 하실 수 있습니다. |
| |
| ■ Grain Size 분석 |
|
analySIS TS Material은 Grain Size 분석을 위하여 Intercept 및 Planimetric 방식의 분석기능을 제공하고 있습니다. Intercept 방식의 경우 수평, 수직, 대각, 원 조합 설정을 ISO, ASTM, JIS, DIN 등의 규격을 지원합니다.
Planimetric 방식의 Grain 측정방식은 Grain 경계의 재건을 위한 고성능 알고리즘을 지원하여 신뢰성 있고 정확한 Grain Size 분석을 가능케 합니다. |
|
|
| |
|
| ■ 주철 (Cast Iron) 분석 |
그라파이트 입자의 모양과 크기기를 분리하여 자동으로 검출 및 평가가 가능합니다. 또한 카본 펄라이트 비율분석도 지원합니다.
EN ISO 945, ASTM, JIS, DIN, GB 규격을 지원합니다. |
|
|
| ■ Layer 두께 측정 |
| 시편의 횡단면 상의 단일 혹은 다중 layer두께를 측정하기 위한 분석 기능입니다. 임의 형상의 표면에 대한 두께를 측정할 수 있으며 측정된 데이터는 통계 값 및 허용 공차를 평가할 수 있습니다. |
|
| |
| ■덴드라이트 암 간격 (DAS - Dendrite Arm Spacing) |
| 덴드라이트 암 간격은 캐스트 알루미늄 내의 평균 덴드라이트 암의 간격의 표준에 따른 결정을 위한 것입니다. 덴드라이트 암은 임계값의 평균에 의해서 자동적으로 검출 됩니다. |
|
|
|
| |
|
|
| |
